電解電容封裝密封技術(shù)演進與可靠性提升方案

为何密封技术成为电解电容可靠性的命门？

在电子设备故障案例中，电解电容密封失效长期占据元件故障前三名（来源：国际电子工业联合会, 2020）。随着电子产品向高频化、小型化发展，传统密封技术面临严峻挑战。如何通过技术创新突破可靠性瓶颈？本文从技术演进视角揭示关键突破点。